Das SHSInspect 1Xpass wurde entwickelt für die Prüfung von Planoptiken wie z.B. funktionellen Gläsern, Grau- oder Farbfiltern. Als Stand-alone-Gerät ermöglicht es die hochgenaue Messung der transmittierten Wellenfront bei verschiedenen Wellenlängen sowie die Ermittlung der PSF und MTF. Die Zernike-Analyse der gemessenen Wellenfront erlaubt die quantitative Analyse der Aberrationen der geprüften Optik. Über eine Pass/Fail-Klassifizierung hinaus können dadurch Fehlerquellen aufgedeckt und Fertigungsprozesse optimiert werden.
Vorteile
- Messung der transmittierten Wellenfont verschiedener Planoptiken
- Vollständige Zernike-Analyse
- Wechsel der Prüfwellenlänge
- Zusätzliche hochauflösende Kontrollkamera für die visuelle Inspektion
Downloads
Aufgrund der hervorragenden Referenzierbarkeit misst das SHSInspect 1Xpass die transmittierte Wellenfront mit höchster Genauigkeit im Bereich weniger nm RMS. Das System kann mit mehreren Lichtquellen zwischen 355nm und 1064nm ausgestattet werden, optional können Polarisationseffekte analysiert werden.
Die detaillierte Spezifikation stellen wir auf Anfrage gerne zur Verfügung.
Das SHSInspect 1Xpass nutzt Optocrafts leistungsstarke Shack-Hartmann Software SHSWorks mit zusätzlichen Erweiterungen für den automatisierten Wellenlängenwechsel und die Prüflingspositionierung.
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